Кратко — две большие группы PV-технологий монокристаллическийкремнийитонкоплёночныематериалымонокристаллический кремний и тонкоплёночные материалымонокристаллическийкремнийитонкоплёночныематериалы имеют общие фундаментальные ограничения термализацияэнергиифотоноввышеEg,невозвратноеизлучениепринесоответствииспектра—Shockley–Queisserтермализация энергии фотонов выше Eg, невозвратное излучение при несоответствии спектра — Shockley–QueisserтермализацияэнергиифотоноввышеEg,невозвратноеизлучениепринесоответствииспектра—Shockley–Queisser, но конкретные доминирующие механизмы потерь и практические пути роста КПД различаются. Ниже — сравнение по ключевым потерям и наиболее перспективным фундаментальным подходам к росту КПД.
1) Фундаментальные пределы
Shockley–Queisser одноступенчатаяячейкапри1‑sunодноступенчатая ячейка при 1‑sunодноступенчатаяячейкапри1‑sun — максимум для идеального однопереходного устройства ~33–34% при оптимальном Eg ≈1.3–1.4 eV. Для кремния Eg≈1.12eVEg ≈1.12 eVEg≈1.12eV теоретический предел одноперехода — порядка 29–30% деталёжезависитотспектраидопущенийдеталёже зависит от спектра и допущенийдеталёжезависитотспектраидопущений. Для материалов с более большим gap CdTe≈1.45eV,оптимальнонастроенныеперовскитыит.п.CdTe ≈1.45 eV, оптимально настроенные перовскиты и т. п.CdTe≈1.45eV,оптимальнонастроенныеперовскитыит.п. пределы одноперехода сравнимы с оптимальным значением при их Eg.Многоступенчатые структуры 2,3иболеепереходов2, 3 и более переходов2,3иболеепереходов и концентрация света поднимают теоретические пределы значительно: два перехода для обычного спектра могут дать ≈40–43%, три — ≈45–50% порядковыевеличины,зависятотоптимальностиband‑gapраспределенияпорядковые величины, зависят от оптимальности band‑gap распределенияпорядковыевеличины,зависятотоптимальностиband‑gapраспределения.
2) Основные механизмы потерь и как они проявляются в Si vs тонкоплёнках
A. Оптические потери
Кремний: Отражение от поверхности решаетсяантирефлекснымипокрытиями,текстуройрешается антирефлексными покрытиями, текстуройрешаетсяантирефлекснымипокрытиями,текстурой.Недостаточная абсорбция в ИК длинноволноваячастьдлинноволновая частьдлинноволноваячасть из‑за косвенной природы поглощения → для полного поглощения нужны толстые пластины ≈150–200мкм≈150–200 мкм≈150–200мкм или эффективное трапление света.Тепловизация избыточнаяэнергияфотоноввышеEgтеряетсякактеплоизбыточная энергия фотонов выше Eg теряется как теплоизбыточнаяэнергияфотоноввышеEgтеряетсякактепло — существенна, т. к. Si имеет ниже оптимального Eg.Тонкоплёнки CdTe,CIGS,перовскиты,a‑SiCdTe, CIGS, перовскиты, a‑SiCdTe,CIGS,перовскиты,a‑Si: Сильное поглощение прямыепереходыпрямые переходыпрямыепереходы → можно делать слои в десятки/сотни нм, меньше оптических потерь на толщине.Паразитное поглощение в буферах/TCO/контактах может стать важным особенновтонкихструктурахособенно в тонких структурахособенновтонкихструктурах.Неравномерное спектральное покрытие — более высокий Eg уменьшает тепловизацию, но урезает Jsc.
B. Рекомбинация радиационнаяинерелятивистскаярадиационная и нерелятивистскаярадиационнаяинерелятивистская
Кремний: Bulk SRH‑рекомбинация на дефектах и в следствие примесей длямонокристаллаэтонебольшая,ноограничивающаяприбольшихтолщинахипринесовершеннойпассивациидля монокристалла это небольшая, но ограничивающая при больших толщинах и при несовершенной пассивациидлямонокристаллаэтонебольшая,ноограничивающаяприбольшихтолщинахипринесовершеннойпассивации.Auger‑рекомбинация — фундаментальный предел при высоких уровнях инжекции/при высокой концентрации тока; именно Auger часто лимитирует Voc/FF для лучших Si‑ячеек.Радиативная рекомбинация мала индиректныйполупроводникиндиректный полупроводникиндиректныйполупроводник, поэтому достижение радиативного предела трудно.Тонкоплёнки: Высокая плотность дефектов на границах зерен и интерфейсах → SRH‑рекомбинация зачастую доминирует, сильно режет Voc большойVoc‑дефицит=Eg/q−Vocбольшой Voc‑дефицит = Eg/q − VocбольшойVoc‑дефицит=Eg/q−Voc.Для прямозонных материалов перовскиты,CdTeперовскиты, CdTeперовскиты,CdTe радиативная рекомбинация сильнее — теоретически можно добиться Voc ближе к радиативному пределу, если убрать негати́вные нердиативные каналы.Для аморфного Si — Staebler–Wronski и другие деградации.
C. Сбор носителей и транспорт
Кремний: Большая толщина даёт большие расстояния для диффузии — у хорошего монокристалла длина диффузии может превосходить толщину, но при механическом истончении важно light‑trapping и пассивация.Контакты, шунты и серия сопротивления — важны, но хорошо отработаны PERC,TOPCon,HJTит.п.PERC, TOPCon, HJT и т. п.PERC,TOPCon,HJTит.п..Тонкоплёнки: Короткие длины диффузии в поликристаллических/аморфных пленках → ограничение по толщине/структуре переходов.Интерфейсные барьеры, энергетические выравнивания блокинг/селективныеконтактныеслоиблокинг/селективные контактные слоиблокинг/селективныеконтактныеслои критичны для сбора и минимизации рекомбинации.
3) Практические KPI: Voc‑дефицит, Jsc, FF
Тонкоплёнки обычно имеют больший Voc‑дефицит из‑занегатиˊвныхнерадиативныхканаловиз‑за негати́вных нерадиативных каналовиз‑занегатиˊвныхнерадиативныхканалов и хуже FF, даже при хорошем Jsc. Si близок к радиационному пределу по Jsc и FF в лучших лабораторных образцах, но Voc ограничен Auger и практической пассивацией.
4) Какие подходы обещают существенный рост КПД иограниченияи ограниченияиограничения
A. Тандемы / многоступенчатые ячейки наиболеепрактическаяиэффективнаястратегиясейчаснаиболее практическая и эффективная стратегия сейчаснаиболеепрактическаяиэффективнаястратегиясейчас
Суть: разделить спектр между материалами с разными Eg, уменьшить тепловизацию и увеличить суммарный V.Практическая реализация: перовскит/кремний перовскитсверху,Si—низперовскит сверху, Si — низперовскитсверху,Si—низ, перовскит/перовскит двухпереходныедвухпереходныедвухпереходные, классические III‑V многоступенчатые под концентрацией.Потенциал: двухступенчатые тандемы теоретически ≈40–43% при 1‑sun; перовскит/Si уже показали реальные приросты и представляют наиболее реалистичный путь для коммерческой Si‑платформы.Ограничения: стабильность, термальное согласование, оптическая и электрическая интеграция, производственные проблемы.
B. Наноструктурирование и light‑management
Текстуры, фотонные кристаллы, наноповерхности, нанопровода/наносэндвичи увеличивают path‑length и локальное усиление поля → позволяют истончать Si, сохраняя поглощение.Плюс: в тонких структурах уменьшает bulk‑рекомбинацию меньшеобъёмадлядефектовменьше объёма для дефектовменьшеобъёмадлядефектов.Минусы: увеличивает поверхностную площадь → рост поверхностной рекомбинации, требует идеальной пассивации; дополнительные потери на рассеяние/поглощение в металлах плазмоникаплазмоникаплазмоника и сложность производства.
C. Повышение качества материала и пассивация интерфейсов
Для тонкоплёнок: уменьшение дефектности зерен контрольроста,добавкиконтроль роста, добавкиконтрольроста,добавки, оптимизация TCO и буферных слоёв, селективные контакты и passivation например,2D‑слоинаперовскитахнапример, 2D‑слои на перовскитахнапример,2D‑слоинаперовскитах критичны для снижения неродиативной рекомбинации.Для Si: оптимизация поверхностной пассивации Al2O3,SiO2Al2O3, SiO2Al2O3,SiO2, селективных контактов HIT,TOPConHIT, TOPConHIT,TOPCon, оптимизация допинга чтобы минимизировать Auger при компромиссе Jsc.
D. Новые концепции болеефундаментальные,нопокатехнологическисложныеболее фундаментальные, но пока технологически сложныеболеефундаментальные,нопокатехнологическисложные
Hot‑carrier cells уловитьфотоэлектроныдоихтепловизацииуловить фотоэлектроны до их тепловизацииуловитьфотоэлектроныдоихтепловизации — высокий теоретический потенциал, но нужна сверхбыстрая экстракция и подавление упругих процессов.Multi‑exciton generation / carrier multiplication — теоретически увеличивает число пар на один высокоэнергетический фотон; на практике малая эффективность.Intermediate‑band solar cells — возможность использовать суб‑Eg фотонов; серьёзные проблемы с неабсорбирующими рекомбинационными центрами и контролем позиций уровней.Photon‑management up/down‑conversionup/down‑conversionup/down‑conversion — требует эффективных материалов и интеграции без паразитных потерь.
5) Что даёт наибольший выигрыш в ближайшие 5–10 лет
Для Si: наиболее реалистичное и быстрое улучшение — перовскит/Si тандемы существенныйростсуммарногоКПДсущественный рост суммарного КПДсущественныйростсуммарногоКПД, плюс оптимизация пассивации и селективных контактов. Light‑trapping + истончение wafer с сохранением абсорбции даёт преимущества при сохранении низкой рекомбинации.Для тонкоплёнок: борьба с интерфейсной и зеренной SRH‑рекомбинацией, улучшение качества TCO, селективных контактов и стабильности особеннодляперовскитовособенно для перовскитовособеннодляперовскитов — это даст реальные увеличения Voc и FF. Тандемы на базе перовскитов perovskite−on‑perovskite,perovskite‑on‑CIGSит.п.perovskite-on‑perovskite, perovskite‑on‑CIGS и т. п.perovskite−on‑perovskite,perovskite‑on‑CIGSит.п. также перспективны.Для больших прыжков КПД выше 40выше ~40%выше40 — многопереходные структуры III‑Vподконцентрациейилигибридныеперовскит/III‑Vидр.III‑V под концентрацией или гибридные перовскит/III‑V и др.III‑Vподконцентрациейилигибридныеперовскит/III‑Vидр. остаются единственно реалистичным путём, но высокая стоимость и сложность производства ограничивают широкое применение.
6) Резюме сравнениеподоминирующимпотерямсравнение по доминирующим потерямсравнениеподоминирующимпотерям
Монокристаллический кремний: Доминирующие: тепловизация высокоэнергетичных фотонов, Auger‑рекомбинация при высоких плотностях тока, частично оптические потери в ИК из‑закосвенногопереходаиз‑за косвенного переходаиз‑закосвенногоперехода.Лучшие практики для роста КПД: пассивация, селективные контакты, light‑trapping, и, ключевой путь — тандем с материалом более высокого Eg перовскитперовскитперовскит.Тонкоплёночные материалы: Доминирующие: неродиативная рекомбинация зерна,интерфейсызерна, интерфейсызерна,интерфейсы, Voc‑дефицит, паразитное оптическое поглощение в контактных/буферных слоях; потенциально лучшее оптическое поглощение на малой толщине.Лучшие практики: улучшение кристалличности и пассивации, корректная энергетическая выравнивающая контактная архитектура, тандемные структуры, стабильность материалов особенноперовскитовособенно перовскитовособенноперовскитов.
Заключение
Если цель — быстрый и значимый рост КПД на существующей Si‑платформе — наиболее перспективно интегрировать высококачественные тонкие верхние слои перовскитыперовскитыперовскиты в тандем с Si и одновременно доводить пассивацию/селективные контакты в Si до предела.Для тонкоплёнок ключ к росту — устранение неродиативных каналов рекомбинации и интерфейсных потерь; тандемы с оптимальным подбором bandgaps — главный путь к превышению пределов одноступенчатых систем.Экзотические концепции hot‑carrier,intermediatebandидр.hot‑carrier, intermediate band и др.hot‑carrier,intermediatebandидр. имеют высокий теоретический потенциал, но для практического коммерческого прорыва потребуют фундаментальных материаловедческих и технологических решений.
Если хотите, могу:
привести численные оценки SQ‑пределов для конкретных Eg Si,CdTe,CIGS,перовскитдиапазоновSi, CdTe, CIGS, перовскит диапазоновSi,CdTe,CIGS,перовскитдиапазонов;подробно расписать технические методы пассивации/контактов для уменьшения конкретных типов рекомбинации;сравнить экономику и масштабируемость разных путей тандемыvsнаноструктурыvsIII‑Vтандемы vs наноструктуры vs III‑VтандемыvsнаноструктурыvsIII‑V.
Кратко — две большие группы PV-технологий монокристаллическийкремнийитонкоплёночныематериалымонокристаллический кремний и тонкоплёночные материалымонокристаллическийкремнийитонкоплёночныематериалы имеют общие фундаментальные ограничения термализацияэнергиифотоноввышеEg,невозвратноеизлучениепринесоответствииспектра—Shockley–Queisserтермализация энергии фотонов выше Eg, невозвратное излучение при несоответствии спектра — Shockley–QueisserтермализацияэнергиифотоноввышеEg,невозвратноеизлучениепринесоответствииспектра—Shockley–Queisser, но конкретные доминирующие механизмы потерь и практические пути роста КПД различаются. Ниже — сравнение по ключевым потерям и наиболее перспективным фундаментальным подходам к росту КПД.
1) Фундаментальные пределы
Shockley–Queisser одноступенчатаяячейкапри1‑sunодноступенчатая ячейка при 1‑sunодноступенчатаяячейкапри1‑sun — максимум для идеального однопереходного устройства ~33–34% при оптимальном Eg ≈1.3–1.4 eV. Для кремния Eg≈1.12eVEg ≈1.12 eVEg≈1.12eV теоретический предел одноперехода — порядка 29–30% деталёжезависитотспектраидопущенийдеталёже зависит от спектра и допущенийдеталёжезависитотспектраидопущений. Для материалов с более большим gap CdTe≈1.45eV,оптимальнонастроенныеперовскитыит.п.CdTe ≈1.45 eV, оптимально настроенные перовскиты и т. п.CdTe≈1.45eV,оптимальнонастроенныеперовскитыит.п. пределы одноперехода сравнимы с оптимальным значением при их Eg.Многоступенчатые структуры 2,3иболеепереходов2, 3 и более переходов2,3иболеепереходов и концентрация света поднимают теоретические пределы значительно: два перехода для обычного спектра могут дать ≈40–43%, три — ≈45–50% порядковыевеличины,зависятотоптимальностиband‑gapраспределенияпорядковые величины, зависят от оптимальности band‑gap распределенияпорядковыевеличины,зависятотоптимальностиband‑gapраспределения.2) Основные механизмы потерь и как они проявляются в Si vs тонкоплёнках
A. Оптические потери
Кремний:Отражение от поверхности решаетсяантирефлекснымипокрытиями,текстуройрешается антирефлексными покрытиями, текстуройрешаетсяантирефлекснымипокрытиями,текстурой.Недостаточная абсорбция в ИК длинноволноваячастьдлинноволновая частьдлинноволноваячасть из‑за косвенной природы поглощения → для полного поглощения нужны толстые пластины ≈150–200мкм≈150–200 мкм≈150–200мкм или эффективное трапление света.Тепловизация избыточнаяэнергияфотоноввышеEgтеряетсякактеплоизбыточная энергия фотонов выше Eg теряется как теплоизбыточнаяэнергияфотоноввышеEgтеряетсякактепло — существенна, т. к. Si имеет ниже оптимального Eg.Тонкоплёнки CdTe,CIGS,перовскиты,a‑SiCdTe, CIGS, перовскиты, a‑SiCdTe,CIGS,перовскиты,a‑Si:
Сильное поглощение прямыепереходыпрямые переходыпрямыепереходы → можно делать слои в десятки/сотни нм, меньше оптических потерь на толщине.Паразитное поглощение в буферах/TCO/контактах может стать важным особенновтонкихструктурахособенно в тонких структурахособенновтонкихструктурах.Неравномерное спектральное покрытие — более высокий Eg уменьшает тепловизацию, но урезает Jsc.
B. Рекомбинация радиационнаяинерелятивистскаярадиационная и нерелятивистскаярадиационнаяинерелятивистская
Кремний:Bulk SRH‑рекомбинация на дефектах и в следствие примесей длямонокристаллаэтонебольшая,ноограничивающаяприбольшихтолщинахипринесовершеннойпассивациидля монокристалла это небольшая, но ограничивающая при больших толщинах и при несовершенной пассивациидлямонокристаллаэтонебольшая,ноограничивающаяприбольшихтолщинахипринесовершеннойпассивации.Auger‑рекомбинация — фундаментальный предел при высоких уровнях инжекции/при высокой концентрации тока; именно Auger часто лимитирует Voc/FF для лучших Si‑ячеек.Радиативная рекомбинация мала индиректныйполупроводникиндиректный полупроводникиндиректныйполупроводник, поэтому достижение радиативного предела трудно.Тонкоплёнки:
Высокая плотность дефектов на границах зерен и интерфейсах → SRH‑рекомбинация зачастую доминирует, сильно режет Voc большойVoc‑дефицит=Eg/q−Vocбольшой Voc‑дефицит = Eg/q − VocбольшойVoc‑дефицит=Eg/q−Voc.Для прямозонных материалов перовскиты,CdTeперовскиты, CdTeперовскиты,CdTe радиативная рекомбинация сильнее — теоретически можно добиться Voc ближе к радиативному пределу, если убрать негати́вные нердиативные каналы.Для аморфного Si — Staebler–Wronski и другие деградации.
C. Сбор носителей и транспорт
Кремний:Большая толщина даёт большие расстояния для диффузии — у хорошего монокристалла длина диффузии может превосходить толщину, но при механическом истончении важно light‑trapping и пассивация.Контакты, шунты и серия сопротивления — важны, но хорошо отработаны PERC,TOPCon,HJTит.п.PERC, TOPCon, HJT и т. п.PERC,TOPCon,HJTит.п..Тонкоплёнки:
Короткие длины диффузии в поликристаллических/аморфных пленках → ограничение по толщине/структуре переходов.Интерфейсные барьеры, энергетические выравнивания блокинг/селективныеконтактныеслоиблокинг/селективные контактные слоиблокинг/селективныеконтактныеслои критичны для сбора и минимизации рекомбинации.
3) Практические KPI: Voc‑дефицит, Jsc, FF
Тонкоплёнки обычно имеют больший Voc‑дефицит из‑занегатиˊвныхнерадиативныхканаловиз‑за негати́вных нерадиативных каналовиз‑занегатиˊвныхнерадиативныхканалов и хуже FF, даже при хорошем Jsc. Si близок к радиационному пределу по Jsc и FF в лучших лабораторных образцах, но Voc ограничен Auger и практической пассивацией.4) Какие подходы обещают существенный рост КПД иограниченияи ограниченияиограничения A. Тандемы / многоступенчатые ячейки наиболеепрактическаяиэффективнаястратегиясейчаснаиболее практическая и эффективная стратегия сейчаснаиболеепрактическаяиэффективнаястратегиясейчас
Суть: разделить спектр между материалами с разными Eg, уменьшить тепловизацию и увеличить суммарный V.Практическая реализация: перовскит/кремний перовскитсверху,Si—низперовскит сверху, Si — низперовскитсверху,Si—низ, перовскит/перовскит двухпереходныедвухпереходныедвухпереходные, классические III‑V многоступенчатые под концентрацией.Потенциал: двухступенчатые тандемы теоретически ≈40–43% при 1‑sun; перовскит/Si уже показали реальные приросты и представляют наиболее реалистичный путь для коммерческой Si‑платформы.Ограничения: стабильность, термальное согласование, оптическая и электрическая интеграция, производственные проблемы.B. Наноструктурирование и light‑management
Текстуры, фотонные кристаллы, наноповерхности, нанопровода/наносэндвичи увеличивают path‑length и локальное усиление поля → позволяют истончать Si, сохраняя поглощение.Плюс: в тонких структурах уменьшает bulk‑рекомбинацию меньшеобъёмадлядефектовменьше объёма для дефектовменьшеобъёмадлядефектов.Минусы: увеличивает поверхностную площадь → рост поверхностной рекомбинации, требует идеальной пассивации; дополнительные потери на рассеяние/поглощение в металлах плазмоникаплазмоникаплазмоника и сложность производства.C. Повышение качества материала и пассивация интерфейсов
Для тонкоплёнок: уменьшение дефектности зерен контрольроста,добавкиконтроль роста, добавкиконтрольроста,добавки, оптимизация TCO и буферных слоёв, селективные контакты и passivation например,2D‑слоинаперовскитахнапример, 2D‑слои на перовскитахнапример,2D‑слоинаперовскитах критичны для снижения неродиативной рекомбинации.Для Si: оптимизация поверхностной пассивации Al2O3,SiO2Al2O3, SiO2Al2O3,SiO2, селективных контактов HIT,TOPConHIT, TOPConHIT,TOPCon, оптимизация допинга чтобы минимизировать Auger при компромиссе Jsc.D. Новые концепции болеефундаментальные,нопокатехнологическисложныеболее фундаментальные, но пока технологически сложныеболеефундаментальные,нопокатехнологическисложные
Hot‑carrier cells уловитьфотоэлектроныдоихтепловизацииуловить фотоэлектроны до их тепловизацииуловитьфотоэлектроныдоихтепловизации — высокий теоретический потенциал, но нужна сверхбыстрая экстракция и подавление упругих процессов.Multi‑exciton generation / carrier multiplication — теоретически увеличивает число пар на один высокоэнергетический фотон; на практике малая эффективность.Intermediate‑band solar cells — возможность использовать суб‑Eg фотонов; серьёзные проблемы с неабсорбирующими рекомбинационными центрами и контролем позиций уровней.Photon‑management up/down‑conversionup/down‑conversionup/down‑conversion — требует эффективных материалов и интеграции без паразитных потерь.5) Что даёт наибольший выигрыш в ближайшие 5–10 лет
Для Si: наиболее реалистичное и быстрое улучшение — перовскит/Si тандемы существенныйростсуммарногоКПДсущественный рост суммарного КПДсущественныйростсуммарногоКПД, плюс оптимизация пассивации и селективных контактов. Light‑trapping + истончение wafer с сохранением абсорбции даёт преимущества при сохранении низкой рекомбинации.Для тонкоплёнок: борьба с интерфейсной и зеренной SRH‑рекомбинацией, улучшение качества TCO, селективных контактов и стабильности особеннодляперовскитовособенно для перовскитовособеннодляперовскитов — это даст реальные увеличения Voc и FF. Тандемы на базе перовскитов perovskite−on‑perovskite,perovskite‑on‑CIGSит.п.perovskite-on‑perovskite, perovskite‑on‑CIGS и т. п.perovskite−on‑perovskite,perovskite‑on‑CIGSит.п. также перспективны.Для больших прыжков КПД выше 40выше ~40%выше 40 — многопереходные структуры III‑Vподконцентрациейилигибридныеперовскит/III‑Vидр.III‑V под концентрацией или гибридные перовскит/III‑V и др.III‑Vподконцентрациейилигибридныеперовскит/III‑Vидр. остаются единственно реалистичным путём, но высокая стоимость и сложность производства ограничивают широкое применение.6) Резюме сравнениеподоминирующимпотерямсравнение по доминирующим потерямсравнениеподоминирующимпотерям
Монокристаллический кремний:Доминирующие: тепловизация высокоэнергетичных фотонов, Auger‑рекомбинация при высоких плотностях тока, частично оптические потери в ИК из‑закосвенногопереходаиз‑за косвенного переходаиз‑закосвенногоперехода.Лучшие практики для роста КПД: пассивация, селективные контакты, light‑trapping, и, ключевой путь — тандем с материалом более высокого Eg перовскитперовскитперовскит.Тонкоплёночные материалы:
Доминирующие: неродиативная рекомбинация зерна,интерфейсызерна, интерфейсызерна,интерфейсы, Voc‑дефицит, паразитное оптическое поглощение в контактных/буферных слоях; потенциально лучшее оптическое поглощение на малой толщине.Лучшие практики: улучшение кристалличности и пассивации, корректная энергетическая выравнивающая контактная архитектура, тандемные структуры, стабильность материалов особенноперовскитовособенно перовскитовособенноперовскитов.
Заключение
Если цель — быстрый и значимый рост КПД на существующей Si‑платформе — наиболее перспективно интегрировать высококачественные тонкие верхние слои перовскитыперовскитыперовскиты в тандем с Si и одновременно доводить пассивацию/селективные контакты в Si до предела.Для тонкоплёнок ключ к росту — устранение неродиативных каналов рекомбинации и интерфейсных потерь; тандемы с оптимальным подбором bandgaps — главный путь к превышению пределов одноступенчатых систем.Экзотические концепции hot‑carrier,intermediatebandидр.hot‑carrier, intermediate band и др.hot‑carrier,intermediatebandидр. имеют высокий теоретический потенциал, но для практического коммерческого прорыва потребуют фундаментальных материаловедческих и технологических решений.Если хотите, могу:
привести численные оценки SQ‑пределов для конкретных Eg Si,CdTe,CIGS,перовскитдиапазоновSi, CdTe, CIGS, перовскит диапазоновSi,CdTe,CIGS,перовскитдиапазонов;подробно расписать технические методы пассивации/контактов для уменьшения конкретных типов рекомбинации;сравнить экономику и масштабируемость разных путей тандемыvsнаноструктурыvsIII‑Vтандемы vs наноструктуры vs III‑VтандемыvsнаноструктурыvsIII‑V.