Существуют различные методы, с помощью которых можно наблюдать мельчайшие частицы атомы и молекулы. Некоторые из них включают использование электронных микроскопов, таких как сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) и трансмиссионный электронный микроскоп (ТЭМ), спектроскопию масс, рентгеновскую дифракцию и атомно-силовую микроскопию.

Электронные микроскопы используются для наблюдения объектов, размеры которых находятся в нанометровом и ангстромовом диапазонах. Благодаря способности электронов проникать сквозь образец, они позволяют увидеть детали структуры атомов и молекул.

Спектроскопия масс использует масс-спектрометр для анализа молекул по массе и заряду, что позволяет определить структуру молекулы.

Рентгеновская дифракция используется для изучения кристаллической структуры материалов, а атомно-силовая микроскопия позволяет исследовать поверхность материалов на атомном уровне с помощью острых игл и ультразвуковых волн.

Эти методы позволяют ученым получить информацию о структуре и взаимодействии атомов и молекул на самом мельчайшем уровне.