Сканирующее листание (также известное как сканирующая электронная микроскопия) является техникой анализа поверхностей образцов при помощи специального микроскопа - сканирующего электронного микроскопа. В отличие от обычного оптического микроскопа, который использует световые лучи для увеличения изображения, сканирующий электронный микроскоп использует пучок электронов.

При сканирующем листании электронный пучок сканирует поверхность образца и создает изображение с высоким разрешением. Эта технология позволяет исследовать структуру и форму образцов на микроскопическом уровне, и часто используется в науке, медицине и инженерии для изучения материалов, биологических образцов и других объектов.