Кейс: в резонансной цепи RLC наблюдается смещение амплитудно-частотной характеристики при изменении температуры — какие параметры цепи зависят от температуры и как это отражается на добротности и резонансной частоте

20 Ноя в 08:38
4 +1
0
Ответы
1
Коротко: зависят все три параметра R, L, C. Их температурная изменчивость смещает резонансную частоту и изменяет добротность — формулы и приближённые оценки ниже.
Какие параметры зависят от температуры
- Сопротивление RRR: обычно растёт с температурой для металлических проводников:
R(T)=R0(1+α (T−T0)), R(T)=R_0\big(1+\alpha\,(T-T_0)\big),
R(T)=R0 (1+α(TT0 )),
где α\alphaα — температурный коэффициент сопротивления (медный провод: α≈3.9×10−3 K−1\alpha\approx3.9\times10^{-3}\ \mathrm{K^{-1}}α3.9×103 K1).
- Индуктивность LLL: меняется при изменении геометрии (термическое расширение) и, особенно, при наличии магнитного сердечника — через μ(T)\mu(T)μ(T):
L(T)=L0(1+τL (T−T0)), L(T)=L_0\big(1+\tau_L\,(T-T_0)\big),
L(T)=L0 (1+τL (TT0 )),
где τL\tau_LτL может быть малы (металлическая катушка) или значимы для ферритов (несколько %/K, сильно нелинейно у близких к Кюри температур).
- Ёмкость CCC: зависит от диэлектрической проницаемости и геометрии:
C(T)=C0(1+τC (T−T0)). C(T)=C_0\big(1+\tau_C\,(T-T_0)\big).
C(T)=C0 (1+τC (TT0 )).
Темп. коэффициенты ёмкостей зависят от типа диэлектрика (NP0 ~ ±\pm±0–30 ppm/°C, X7R — гораздо больше и нелинейно).
Как это отражается на резонансной частоте и добротности
- Идеальная резонансная частота:
ω0=1LC,f0=ω02π. \omega_0=\frac{1}{\sqrt{LC}},\qquad f_0=\frac{\omega_0}{2\pi}.
ω0 =LC 1 ,f0 =2πω0 .
Для малых изменений относительное смещение:
δω0ω0≈−12(δLL+δCC) \frac{\delta\omega_0}{\omega_0}\approx -\tfrac{1}{2}\Big(\frac{\delta L}{L}+\frac{\delta C}{C}\Big)
ω0 δω0 21 (LδL +CδC )
или в терминах ТК:
δω0ω0≈−12(τL+τC)ΔT. \frac{\delta\omega_0}{\omega_0}\approx -\tfrac{1}{2}(\tau_L+\tau_C)\Delta T.
ω0 δω0 21 (τL +τC )ΔT.
Т.е. увеличение LLL или CCC с температурой снижает ω0\omega_0ω0 .
- Добротность (последовательная RLC):
Qser=1RLC=ω0LR. Q_{\text{ser}}=\frac{1}{R}\sqrt{\frac{L}{C}}=\frac{\omega_0 L}{R}.
Qser =R1 CL =Rω0 L .
Относительное изменение для малых приращений:
δQQ≈−δRR+12δLL−12δCC. \frac{\delta Q}{Q}\approx -\frac{\delta R}{R}+\tfrac{1}{2}\frac{\delta L}{L}-\tfrac{1}{2}\frac{\delta C}{C}.
QδQ RδR +21 LδL 21 CδC .
Подставляя ТК:
δQQ≈(−α+12τL−12τC)ΔT. \frac{\delta Q}{Q}\approx\big(-\alpha+\tfrac{1}{2}\tau_L-\tfrac{1}{2}\tau_C\big)\Delta T.
QδQ (α+21 τL 21 τC )ΔT.
Для параллельной схемы:
Qpar=RCL,δQQ≈δRR+12δCC−12δLL. Q_{\text{par}}=R\sqrt{\frac{C}{L}},\qquad
\frac{\delta Q}{Q}\approx\frac{\delta R}{R}+\tfrac{1}{2}\frac{\delta C}{C}-\tfrac{1}{2}\frac{\delta L}{L}.
Qpar =RLC ,QδQ RδR +21 CδC 21 LδL .
- Дополнительный эффект: при значительном затухании наблюдаемая частота пика смещается от ω0\omega_0ω0 к демпфированной ωd\omega_dωd :
ωd=ω01−12Q2, \omega_d=\omega_0\sqrt{1-\frac{1}{2Q^2}},
ωd =ω0 12Q21 ,
— при низком QQQ это даёт дополнительное уменьшение частоты пика.
Практическое замечание (коротко): чаще всего основное влияние даёт рост RRR (снижение амплитуды, уменьшение QQQ) и изменение CCC или LLL в зависимости от материалов (сдвиг f0f_0f0 ). Для минимизации — использовать низкоТКС резисторы, стабильные конденсаторы (NP0/C0G), немагнитные/температурно-стабильные сердечники или термокомпенсацию.
20 Ноя в 09:17
Не можешь разобраться в этой теме?
Обратись за помощью к экспертам
Гарантированные бесплатные доработки в течение 1 года
Быстрое выполнение от 2 часов
Проверка работы на плагиат
Поможем написать учебную работу
Прямой эфир