Увеличение числа штрихов на решетке: чем больше штрихов на решетке, тем больше интерференционная картина, что позволяет более точно определить максимумы и минимумы дифракции.

Использование решетки с более мелкими штрихами: чем меньше расстояние между штрихами на решетке, тем выше разрешающая способность.

Увеличение длины волны источника света: при использовании более коротковолнового света можно получить более четкую дифракционную картину.

Использование более чувствительного детектора: чем более точно можно измерять интенсивность света в каждой точке дифракционной картины, тем более точно можно вычислить длину волны.

Увеличение расстояния между дифракционной решеткой и экраном: чем больше расстояние, тем меньше дифракционных углов между интерференционными полосами, что позволит более точно измерить расстояние между ними и, следовательно, определить длину волны.