Для определения кристалической решетки графита можно воспользоваться методами анализа, такими как рентгенография или электронная дифракция.

Рентгенография: при этом методе образец графита облучается рентгеновскими лучами, и рассеянные рентгеновские лучи анализируются с помощью детектора. Из полученного спектра рассеяния можно определить характеристики кристаллической решетки, такие как расстояние между плоскостями, угол между ними и т.д.

Электронная дифракция: при этом методе электронный пучок направляется на образец графита, и происходит дифракция электронов на кристаллической решетке образца. Спектр дифракции позволяет определить характеристики решетки и ориентацию кристалла.

Используя данные полученные с помощью этих методов, можно определить параметры кристаллической решетки графита, такие как межплоскостное расстояние, ориентацию кристалла, углы между плоскостями и другие характеристики.