Кейс по туннелированию: в сцинтилляторе электрон проходит туннелем через потенциальный барьер при низких температурах — как рассчитать вероятность туннелирования и как это влияет на характеристику тока при малых напряжениях
Ключевая идея: вероятность туннелирования вычисляется в приближении WKB, а ток при малых напряжениях получается из формулы Ландауэра и при низких температурах пропорционален этой вероятности (температурно-независимая компонента). 1) Вероятность туннелирования (WKB) - Общая WKB-оценка для одномерного барьера: T≈exp (−2∫x1x2κ(x) dx),κ(x)=2m∗(V(x)−E)ℏ,T\approx \exp\!\left(-2\int_{x_1}^{x_2}\kappa(x)\,dx\right),\qquad \kappa(x)=\frac{\sqrt{2m^*(V(x)-E)}}{\hbar},T≈exp(−2∫x1x2κ(x)dx),κ(x)=ℏ2m∗(V(x)−E),
где x1,2x_{1,2}x1,2 — классические точки доступа, V(x)V(x)V(x) — профиль барьера, EEE — энергия электрона, m∗m^*m∗ — эффективная масса. - Для прямоугольного барьера высоты V0V_0V0 и ширины aaa (при E<V0E<V_0E<V0): T≈exp (−2a2m∗(V0−E)ℏ).T\approx\exp\!\left(-2a\frac{\sqrt{2m^*(V_0-E)}}{\hbar}\right).T≈exp(−2aℏ2m∗(V0−E)). 2) Ток при низких температур и малом напряжении - Формула Ландауэра для одномерной проводимости: I=2eh∫T(E) [f1(E)−f2(E)] dE,I=\frac{2e}{h}\int T(E)\,[f_1(E)-f_2(E)]\,dE,I=h2e∫T(E)[f1(E)−f2(E)]dE,
где f1,2f_{1,2}f1,2 — распределения Ферми в контактах. При T→0T\to 0T→0 и малом смещении eV≪EFeV\ll E_FeV≪EF можно линearизовать: I≈2e2h T(EF) V.I\approx\frac{2e^2}{h}\,T(E_F)\,V.I≈h2e2T(EF)V.
Отсюда: при малых VVV ток ведёт себя почти линейно I∝VI\propto VI∝V, коэффициент пропорциональности содержит экспоненциально малую вероятность T(EF)T(E_F)T(EF). - Для тонких изоляторов (сопоставимо с прямоугольным/клиновидным барьером) часто используют аппроксимацию J∝Vexp(−2κa),J\propto V\exp(-2\kappa a),J∝Vexp(−2κa),
где κ\kappaκ оценивается при энергии около EFE_FEF. 3) Влияние напряжения и поля - Малое VVV: барьер слегка «наклоняется», TTT растёт слабее; линейная зависимость остаётся до тех пор, пока изменение барьера мало. - При больших полях появляется выравнивание/снижение высоты барьера и переход к экспоненциально сильному росту тока (филд-усиленное туннелирование, приближённо типа Фаулера–Нордхейма): J∝F2exp (−Cϕ3/2F),J\propto F^2\exp\!\Big(-\frac{C\phi^{3/2}}{F}\Big),J∝F2exp(−FCϕ3/2),
где FFF — поле, ϕ\phiϕ — высота барьера, CCC — константа. 4) Практические замечания для сцинтиллятора - Определите профиль V(x)V(x)V(x), высоту барьера (относительно энергии электрона), ширину aaa (расстояние между локальными состояниями или толщина барьера) и эффективную массу m∗m^*m∗. - Подставьте в WKB и получите T(E)T(E)T(E). Для тока используйте Ландауэр или простую модель I∼envTI\sim e n v TI∼envT (где nnn — плотность носителей, vvv — скорость подхода к барьеру). - При низких температурах вклад термальной эмиссии мал, поэтому туннельный ток будет почти температурно-независимым и доминировать при малых VVV. Коротко: рассчитать TTT через WKB, затем получить III через Ландауэра; при малых напряжениях I≈2e2hT(EF)VI\approx\frac{2e^2}{h}T(E_F)VI≈h2e2T(EF)V, то есть линейный ток с экспоненциально малым коэффициентом, который увеличивается при усилении поля из-за снижения/наклона барьера.
1) Вероятность туннелирования (WKB)
- Общая WKB-оценка для одномерного барьера:
T≈exp (−2∫x1x2κ(x) dx),κ(x)=2m∗(V(x)−E)ℏ,T\approx \exp\!\left(-2\int_{x_1}^{x_2}\kappa(x)\,dx\right),\qquad
\kappa(x)=\frac{\sqrt{2m^*(V(x)-E)}}{\hbar},T≈exp(−2∫x1 x2 κ(x)dx),κ(x)=ℏ2m∗(V(x)−E) , где x1,2x_{1,2}x1,2 — классические точки доступа, V(x)V(x)V(x) — профиль барьера, EEE — энергия электрона, m∗m^*m∗ — эффективная масса.
- Для прямоугольного барьера высоты V0V_0V0 и ширины aaa (при E<V0E<V_0E<V0 ):
T≈exp (−2a2m∗(V0−E)ℏ).T\approx\exp\!\left(-2a\frac{\sqrt{2m^*(V_0-E)}}{\hbar}\right).T≈exp(−2aℏ2m∗(V0 −E) ).
2) Ток при низких температур и малом напряжении
- Формула Ландауэра для одномерной проводимости:
I=2eh∫T(E) [f1(E)−f2(E)] dE,I=\frac{2e}{h}\int T(E)\,[f_1(E)-f_2(E)]\,dE,I=h2e ∫T(E)[f1 (E)−f2 (E)]dE, где f1,2f_{1,2}f1,2 — распределения Ферми в контактах. При T→0T\to 0T→0 и малом смещении eV≪EFeV\ll E_FeV≪EF можно линearизовать:
I≈2e2h T(EF) V.I\approx\frac{2e^2}{h}\,T(E_F)\,V.I≈h2e2 T(EF )V. Отсюда: при малых VVV ток ведёт себя почти линейно I∝VI\propto VI∝V, коэффициент пропорциональности содержит экспоненциально малую вероятность T(EF)T(E_F)T(EF ).
- Для тонких изоляторов (сопоставимо с прямоугольным/клиновидным барьером) часто используют аппроксимацию
J∝Vexp(−2κa),J\propto V\exp(-2\kappa a),J∝Vexp(−2κa), где κ\kappaκ оценивается при энергии около EFE_FEF .
3) Влияние напряжения и поля
- Малое VVV: барьер слегка «наклоняется», TTT растёт слабее; линейная зависимость остаётся до тех пор, пока изменение барьера мало.
- При больших полях появляется выравнивание/снижение высоты барьера и переход к экспоненциально сильному росту тока (филд-усиленное туннелирование, приближённо типа Фаулера–Нордхейма):
J∝F2exp (−Cϕ3/2F),J\propto F^2\exp\!\Big(-\frac{C\phi^{3/2}}{F}\Big),J∝F2exp(−FCϕ3/2 ), где FFF — поле, ϕ\phiϕ — высота барьера, CCC — константа.
4) Практические замечания для сцинтиллятора
- Определите профиль V(x)V(x)V(x), высоту барьера (относительно энергии электрона), ширину aaa (расстояние между локальными состояниями или толщина барьера) и эффективную массу m∗m^*m∗.
- Подставьте в WKB и получите T(E)T(E)T(E). Для тока используйте Ландауэр или простую модель I∼envTI\sim e n v TI∼envT (где nnn — плотность носителей, vvv — скорость подхода к барьеру).
- При низких температурах вклад термальной эмиссии мал, поэтому туннельный ток будет почти температурно-независимым и доминировать при малых VVV.
Коротко: рассчитать TTT через WKB, затем получить III через Ландауэра; при малых напряжениях I≈2e2hT(EF)VI\approx\frac{2e^2}{h}T(E_F)VI≈h2e2 T(EF )V, то есть линейный ток с экспоненциально малым коэффициентом, который увеличивается при усилении поля из-за снижения/наклона барьера.