Рассмотрите различия между резонансным туннелированием и классическим прохождением через потенциальный барьер: как это проявляется в экспериментальных I–V характеристиках наноструктур
Кратко — механизм и что видно в I–V. Механизмы - Резонансное туннелирование: квантованное состояние (уровень) в потенциальной яме между двумя барьерами даёт энерго‑избирательную передачу электронов. Ток определяется пропусканием через резонансный уровень и описывается в рамках Ландауэра: I∝∫T(E) [fL(E)−fR(E)] dE.I \propto \int T(E)\,[f_L(E)-f_R(E)]\,dE.I∝∫T(E)[fL(E)−fR(E)]dE.
Для одиночного резонанса форма прозрачности — брейт‑вигнеровская: T(E)=ΓLΓR(E−E0)2+(Γ/2)2,Γ=ΓL+ΓR.T(E)=\frac{\Gamma_L\Gamma_R}{(E-E_0)^2+(\Gamma/2)^2},\qquad \Gamma=\Gamma_L+\Gamma_R.T(E)=(E−E0)2+(Γ/2)2ΓLΓR,Γ=ΓL+ΓR.
- Классическое прохождение (термическая эмиссия / надбарьерный поток): электроны получают энергию >Ub>U_b>Ub и преодолевают барьер по закону тепловой активации: I∝exp (−EbkBT).I\propto \exp\!\left(-\frac{E_b}{k_BT}\right).I∝exp(−kBTEb).
Для некогерентного туннелирования без резонансов передача зависит экспоненциально от толщины и высоты барьера: T∝exp(−2κd),κ=2m(U−E)ℏ.T\propto\exp(-2\kappa d),\qquad \kappa=\frac{\sqrt{2m(U-E)}}{\hbar}.T∝exp(−2κd),κ=ℏ2m(U−E). Отличия в экспериментальных I–V (что наблюдают) - Резонансное туннелирование: - Острые пиковые структуры в I(V) (и conductance dI/dVdI/dVdI/dV) при напряжениях, когда уровень выравнивается: eV≈E0−EFeV\approx E_0-E_FeV≈E0−EF. - Области отрицательной дифференциальной проводимости (NDR): между пиком и последующим затуханием тока dI/dV<0dI/dV<0dI/dV<0. - Ширина пика ограничена скоростью утечки из уровня: width∼max(Γ,kBT)\text{width}\sim\max(\Gamma,k_BT)width∼max(Γ,kBT). При низких TTT ширина ∼Γ\sim\Gamma∼Γ. - Положение пиков сдвигается при изменении управляющего напряжения (шлюз/затвор), при асимметричных барьерах — асимметричный I–V и смещение пиков. - Пиковый ток и форма чувствительны к фазовой когерентности; при повышении TTT пики размываются, но их позиция мало зависит от TTT. - Часто наблюдаются дополнительные спутниковые пики (фононные, плазмонные) на E0±ℏωE_0\pm\hbar\omegaE0±ℏω. - Количественная характеристика: peak‑to‑valley ratio PVR=Ipeak/IvalleyPVR=I_{peak}/I_{valley}PVR=Ipeak/Ivalley — показатель качества резонанса. - Классическое (надбарьерное/термическое) прохождение: - Гладкий, монотонно возрастающий I(V) без резких пиков и без NDR. - Сильная температурная зависимость: лог(I) линейно зависит от 1/T1/T1/T (аррениусовское поведение). - Для полевого/полупроводникового эмиссионного режима (Fowler–Nordheim) характерен закономерный вид: график ln(I/V2)\ln(I/V^2)ln(I/V2) против 1/V1/V1/V даёт прямую линию. - В случае простой туннельной «не‑резонансной» передачи ток экспоненциально зависит от толщины барьера и не показывает узких энергетических пиков. Диагностика в экспериментах - Наличие узких пиков и NDR → резонансное туннелирование (кохерентный перенос). - Слабая температурная зависимость позиции пиков, а не амплитуды → резонанс; сильная аррениусовская зависимость → термальная активация. - Зависимость формы/положения пиков от затворного напряжения → подтверждает уровень в квантовой яме. - Линейность ln(I/V2)\ln(I/V^2)ln(I/V2) vs 1/V1/V1/V → Fowler–Nordheim (полевая эмиссия), экспоненциальная зависимость от ddd → классический туннельный режим. Итого: в I–V резонанс проявляется как узкие, энерго‑избирательные пики и NDR с шириной, задаваемой Γ\GammaΓ и kBTk_BTkBT; классическое прохождение — гладкий монотонный рост с сильной температурной активацией и без NDR.
Механизмы
- Резонансное туннелирование: квантованное состояние (уровень) в потенциальной яме между двумя барьерами даёт энерго‑избирательную передачу электронов. Ток определяется пропусканием через резонансный уровень и описывается в рамках Ландауэра:
I∝∫T(E) [fL(E)−fR(E)] dE.I \propto \int T(E)\,[f_L(E)-f_R(E)]\,dE.I∝∫T(E)[fL (E)−fR (E)]dE. Для одиночного резонанса форма прозрачности — брейт‑вигнеровская:
T(E)=ΓLΓR(E−E0)2+(Γ/2)2,Γ=ΓL+ΓR.T(E)=\frac{\Gamma_L\Gamma_R}{(E-E_0)^2+(\Gamma/2)^2},\qquad \Gamma=\Gamma_L+\Gamma_R.T(E)=(E−E0 )2+(Γ/2)2ΓL ΓR ,Γ=ΓL +ΓR . - Классическое прохождение (термическая эмиссия / надбарьерный поток): электроны получают энергию >Ub>U_b>Ub и преодолевают барьер по закону тепловой активации:
I∝exp (−EbkBT).I\propto \exp\!\left(-\frac{E_b}{k_BT}\right).I∝exp(−kB TEb ). Для некогерентного туннелирования без резонансов передача зависит экспоненциально от толщины и высоты барьера:
T∝exp(−2κd),κ=2m(U−E)ℏ.T\propto\exp(-2\kappa d),\qquad \kappa=\frac{\sqrt{2m(U-E)}}{\hbar}.T∝exp(−2κd),κ=ℏ2m(U−E) .
Отличия в экспериментальных I–V (что наблюдают)
- Резонансное туннелирование:
- Острые пиковые структуры в I(V) (и conductance dI/dVdI/dVdI/dV) при напряжениях, когда уровень выравнивается: eV≈E0−EFeV\approx E_0-E_FeV≈E0 −EF .
- Области отрицательной дифференциальной проводимости (NDR): между пиком и последующим затуханием тока dI/dV<0dI/dV<0dI/dV<0.
- Ширина пика ограничена скоростью утечки из уровня: width∼max(Γ,kBT)\text{width}\sim\max(\Gamma,k_BT)width∼max(Γ,kB T). При низких TTT ширина ∼Γ\sim\Gamma∼Γ.
- Положение пиков сдвигается при изменении управляющего напряжения (шлюз/затвор), при асимметричных барьерах — асимметричный I–V и смещение пиков.
- Пиковый ток и форма чувствительны к фазовой когерентности; при повышении TTT пики размываются, но их позиция мало зависит от TTT.
- Часто наблюдаются дополнительные спутниковые пики (фононные, плазмонные) на E0±ℏωE_0\pm\hbar\omegaE0 ±ℏω.
- Количественная характеристика: peak‑to‑valley ratio PVR=Ipeak/IvalleyPVR=I_{peak}/I_{valley}PVR=Ipeak /Ivalley — показатель качества резонанса.
- Классическое (надбарьерное/термическое) прохождение:
- Гладкий, монотонно возрастающий I(V) без резких пиков и без NDR.
- Сильная температурная зависимость: лог(I) линейно зависит от 1/T1/T1/T (аррениусовское поведение).
- Для полевого/полупроводникового эмиссионного режима (Fowler–Nordheim) характерен закономерный вид: график ln(I/V2)\ln(I/V^2)ln(I/V2) против 1/V1/V1/V даёт прямую линию.
- В случае простой туннельной «не‑резонансной» передачи ток экспоненциально зависит от толщины барьера и не показывает узких энергетических пиков.
Диагностика в экспериментах
- Наличие узких пиков и NDR → резонансное туннелирование (кохерентный перенос).
- Слабая температурная зависимость позиции пиков, а не амплитуды → резонанс; сильная аррениусовская зависимость → термальная активация.
- Зависимость формы/положения пиков от затворного напряжения → подтверждает уровень в квантовой яме.
- Линейность ln(I/V2)\ln(I/V^2)ln(I/V2) vs 1/V1/V1/V → Fowler–Nordheim (полевая эмиссия), экспоненциальная зависимость от ddd → классический туннельный режим.
Итого: в I–V резонанс проявляется как узкие, энерго‑избирательные пики и NDR с шириной, задаваемой Γ\GammaΓ и kBTk_BTkB T; классическое прохождение — гладкий монотонный рост с сильной температурной активацией и без NDR.