Какие структурные особенности ковалентной кристаллической решётки кремния объясняют его полупроводниковые свойства и как легирование изменяет проводимость
Коротко и по делу. Структурные особенности - Кремний имеет алмазоподобную (diamond cubic) кристаллическую решётку с тетраэдрической координацией: каждый атом Si образует четыре прочных ковалентных связи (sp3^33-гибридизация). Это даёт сильно связанное заполненное валентное состояние и пустые антисвязывающие состояния — формируются валентная и проводящая зоны. - Межзонный энерговый разрыв у кремния невелик: Eg≈1.12 eVE_g \approx 1.12\ \text{eV}Eg≈1.12eV при 300 K300\ \text{K}300K. При этом разрыв непрямой (indirect), поэтому оптические переходы требуют участия фонона. - Из-за ковалентных связей электроны в валентной зоне локализованы в связывающих состояниях, а для свободной проводимости требуется термическое возбуждение через EgE_gEg. Как это даёт полупроводниковые свойства - При конечной температуре часть электронов возбуждается в проводящую зону, образуя электроны и дырки; их концентрация зависит экспоненциально от разрыва: ni=NCNV e−Eg/(2kT)
n_i=\sqrt{N_C N_V}\,e^{-E_g/(2kT)} ni=NCNVe−Eg/(2kT)
где NC,NVN_C,N_VNC,NV — эффективные плотности состояний в зонах, kkk — Больцмана, TTT — температура. - Проводимость определяется σ=q (nμn+pμp),
\sigma = q\,(n\mu_n + p\mu_p), σ=q(nμn+pμp),
где qqq — заряд электр., n,pn,pn,p — концентрации электронов и дырок, μn,μp\mu_n,\mu_pμn,μp — подвижности. Наличие малого EgE_gEg и термического возбуждения даёт конечную, управляемую проводимость (в отличие от изолятора или металла). - Непрямой характер разрыва снижает эффективность оптического поглощения/излучения по сравнению с прямозонными полупроводниками. Как легирование изменяет проводимость - Донорное легирование (n‑тип): примеси V группы (например, P, As) вводят лишний электрон и создают донорный уровень EDE_DED близко под зоной проводимости ECE_CEC. При обычных температурах эти уровни ионизируются, давая электронов примерно равных концентрации доноров: n≈ND(при ND≫ni).
n \approx N_D\quad(\text{при }N_D\gg n_i). n≈ND(приND≫ni).
Ферми‑уровень смещается ближе к ECE_CEC. - Акцепторное легирование (p‑тип): примеси III группы (например, B, Al) создают акцепторный уровень EAE_AEA чуть выше зоны валентности EVE_VEV; ионизация даёт дырки, p≈NAp \approx N_Ap≈NA. Ферми‑уровень смещается к EVE_VEV. - Выполняется соотношение массы носителей в равновесии: np=ni2.
np = n_i^2. np=ni2.
- При низких температурах возможен эффект «замораживания» (freeze‑out), когда примеси не ионизируются; при высоких концентрациях подвижности снижаются из‑за рассеяния на примесях и компенсации. - Легирование позволяет изменять концентрацию носителей на много порядков, тем самым точно контролировать проводимость и тип носителей — основа создания диодов, транзисторов и т.д. Итого: ковалентная тетраэдрическая решётка даёт узкую валентную и проводящую зоны с конечным EgE_gEg, что делает Si полупроводником; легирование вводит уровни близко к краям зон, и при ионизации резко увеличивает концентрацию носителей и меняет тип проводимости.
Структурные особенности
- Кремний имеет алмазоподобную (diamond cubic) кристаллическую решётку с тетраэдрической координацией: каждый атом Si образует четыре прочных ковалентных связи (sp3^33-гибридизация). Это даёт сильно связанное заполненное валентное состояние и пустые антисвязывающие состояния — формируются валентная и проводящая зоны.
- Межзонный энерговый разрыв у кремния невелик: Eg≈1.12 eVE_g \approx 1.12\ \text{eV}Eg ≈1.12 eV при 300 K300\ \text{K}300 K. При этом разрыв непрямой (indirect), поэтому оптические переходы требуют участия фонона.
- Из-за ковалентных связей электроны в валентной зоне локализованы в связывающих состояниях, а для свободной проводимости требуется термическое возбуждение через EgE_gEg .
Как это даёт полупроводниковые свойства
- При конечной температуре часть электронов возбуждается в проводящую зону, образуя электроны и дырки; их концентрация зависит экспоненциально от разрыва:
ni=NCNV e−Eg/(2kT) n_i=\sqrt{N_C N_V}\,e^{-E_g/(2kT)}
ni =NC NV e−Eg /(2kT) где NC,NVN_C,N_VNC ,NV — эффективные плотности состояний в зонах, kkk — Больцмана, TTT — температура.
- Проводимость определяется
σ=q (nμn+pμp), \sigma = q\,(n\mu_n + p\mu_p),
σ=q(nμn +pμp ), где qqq — заряд электр., n,pn,pn,p — концентрации электронов и дырок, μn,μp\mu_n,\mu_pμn ,μp — подвижности. Наличие малого EgE_gEg и термического возбуждения даёт конечную, управляемую проводимость (в отличие от изолятора или металла).
- Непрямой характер разрыва снижает эффективность оптического поглощения/излучения по сравнению с прямозонными полупроводниками.
Как легирование изменяет проводимость
- Донорное легирование (n‑тип): примеси V группы (например, P, As) вводят лишний электрон и создают донорный уровень EDE_DED близко под зоной проводимости ECE_CEC . При обычных температурах эти уровни ионизируются, давая электронов примерно равных концентрации доноров:
n≈ND(при ND≫ni). n \approx N_D\quad(\text{при }N_D\gg n_i).
n≈ND (при ND ≫ni ). Ферми‑уровень смещается ближе к ECE_CEC .
- Акцепторное легирование (p‑тип): примеси III группы (например, B, Al) создают акцепторный уровень EAE_AEA чуть выше зоны валентности EVE_VEV ; ионизация даёт дырки, p≈NAp \approx N_Ap≈NA . Ферми‑уровень смещается к EVE_VEV .
- Выполняется соотношение массы носителей в равновесии:
np=ni2. np = n_i^2.
np=ni2 . - При низких температурах возможен эффект «замораживания» (freeze‑out), когда примеси не ионизируются; при высоких концентрациях подвижности снижаются из‑за рассеяния на примесях и компенсации.
- Легирование позволяет изменять концентрацию носителей на много порядков, тем самым точно контролировать проводимость и тип носителей — основа создания диодов, транзисторов и т.д.
Итого: ковалентная тетраэдрическая решётка даёт узкую валентную и проводящую зоны с конечным EgE_gEg , что делает Si полупроводником; легирование вводит уровни близко к краям зон, и при ионизации резко увеличивает концентрацию носителей и меняет тип проводимости.