Фотогальванический элемент теряет КПД с повышением температуры: какие микроскопические процессы в полупроводнике и контактных переходах приводят к потерям, и какие способы терморегулирования наиболее перспективны для концентрированных СЭС?
Кратко и по существу — какие микропроцессы уменьшают КПД при нагреве и какие методы терморегулирования для концентрированных СЭС наиболее перспективны. Почему КПД падает при повышении температуры (микроскопические механизмы) - Уменьшение разности энергетических зон (сужение запрещённой зоны): при увеличении TTT ширина запрещённой зоны EgE_gEg снижается, что повышает тёмный ток и снижает максимальное напряжение. Приблизительно I0I_0I0 растёт как I0∝T3e−Eg/(kT),
I_0 \propto T^3 e^{-E_g/(kT)}, I0∝T3e−Eg/(kT),
а открытое напряжение подставочно задаётся Voc≈kTqln (IphI0+1).
V_{oc}\approx \frac{kT}{q}\ln\!\Big(\frac{I_{ph}}{I_0}+1\Big). Voc≈qkTln(I0Iph+1).
Рост I0I_0I0 и множитель kT/qkT/qkT/q приводят к заметному падению VocV_{oc}Voc (основной вклад в потерю КПД). - Увеличение рекомбинации: - Shockley–Read–Hall (SRH): заполнение и термальная активизация ловушек делает SRH-рекомбинацию эффективнее при повышенной TTT. - Аугер-рекомбинация: при высоких уровнях инжекции (концентраторы) скорость Аугера растёт сильно (RAugerR_{Auger}RAuger масштабируется как функции больших концентраций носителей, примерно ∝n2p \propto n^2p ∝n2p или ∝n3 \propto n^3∝n3 в предельных случаях). Рост рекомбинации уменьшает время жизни τ\tauτ и диффузионную длину L=DτL=\sqrt{D\tau}L=Dτ, что снижает сбор фотогенерированных носителей. - Увеличение тёмного/утечек и шунтовых потерь: тепловая активация путей утечки (поверхностных и переходных) увеличивает токи утечки и снижает FF. - Снижение подвижности носителей из‑за рассеяния на фононах: с ростом TTT падает μ\muμ, уменьшаются коэффициенты диффузии D=μkT/qD=\mu kT/qD=μkT/q и ток коллекции, что ухудшает заполнительный фактор (FF) и токи при плотных токах. - Изменения на контактах и переходах: термическая агрегация, увеличение контактного сопротивления, термическая диффузия металлов/легирующих примесей, изменение барьерных высот и усиление термоионного (утечного) тока в швах/диодах. Какие способы терморегулирования наиболее перспективны для концентрированных СЭС (кратко — преимущества и ограничения) 1. Жидкостное активное охлаждение микроканалами (back‑side microchannel cooling) - Очень высокая плотность отвода тепла, малый перепад температуры по ячейке. - Подходит при концентрациях >> 100×; хорошо в паре с многослойными III–V ячейками. - Требует насосов, герметичности, усложняет систему, но даёт лучшую плотность теплового потока. 2. Двухфазное охлаждение (кипение/испарение в микроканалах, тепловые трубы, испарительные пластины) - Очень высокий тепловой поток удаления с небольшой ΔT. - Эффективно для пиковых нагрузок; сложнее в реализации (контроль сухих зон и надежность). 3. Вапор‑чембер / тепловые трубы + радиатор (пассивно/гибридно) - Хорошо распределяют тепло по большой площади радиатора; надёжнее, проще в обслуживании. - Подходит для умеренных концентраций или в сочетании с активным жидкостным подводом. 4. Спектральное разделение (dichroic/spectral splitting) - Удаляет длинноволновую (инфракрасную) часть спектра от PV‑ячейки и отправляет её в термальный приёмник (CPV‑T) или в теплоотвод. - Снижает нагрев ячейки без потери общей энергетической утилизации (плюс возможность когенерации). - Требует более сложной оптики и согласования потоков. 5. Сброс/использование тепла (CPV‑T, теплообмен и когенерация) - Прямое извлечение отведённого тепла для выработки горячей воды/пара повышает общую эффективность установки. - Экономически выгодно при хорошем тепловом спросе. 6. Выбор материалов/конструкции ячейки - Многословные III–V (GaAs‑based) MJ‑ячейки имеют меньший температурный коэффициент (dVoc/dTdV_{oc}/dTdVoc/dT меньший), лучше переносят концентрацию. - Тонкоплёночные структуры с хорошим пассивом поверхности и низкой плотностью ловушек уменьшают SRH‑рост с TTT. 7. Терморазделяющие и фазопереносные решения (PCM, буферные системы) - Снижают пиковые температуры при переменном инсоляции; полезны для кратковременных пиков. 8. Поверхностные радиаторы и селективное излучение - Селективные излучающие покрытия (в инфракрасной полосе) для улучшения радиативного охлаждения; ограниченно полезно при высоком инсоляции, более эффективно ночью/при низкой концентрации. Рекомендация для CPV (практически): - Для высоких концентраций (>100×) наиболее перспективно сочетание: высокоэффективные многослойные III–V ячейки + жёсткое активное охлаждение (микроканалы или двухфазное) + оптическое спектральное разделение и использование тепла (CPV‑T). Это минимизирует падение VocV_{oc}Voc и рекомбинационные потери и позволяет рекуперировать тепло. - Для средних концентраций (10–100×) эффективны комбинированные решения: вапор‑чембер + радиатор и частичное спектральное разделение; пассивные решения с хорошим теплоотводом и материалами с низким температурным коэффициентом. Коротко о числовой зависимости (чтобы понимать масштаб): - Основная потеря КПД идёт через падение VocV_{oc}Voc по закону диода: при росте TTT тёмный ток I0I_0I0 экспоненциально растёт и VocV_{oc}Voc уменьшается (типично температурный коэффициент мощности для кремниевых СЭ — порядка −0.4%/ ∘C-0.4\%/\!^\circ\mathrm{C}−0.4%/∘C, для лучших III–V ячеек заметно меньше). Если нужно — могу привести расчёт ожидаемого падения VocV_{oc}Voc и мощности для конкретной ячейки (дам исходные параметры: Iph,I0,EgI_{ph}, I_0, E_gIph,I0,Eg, коэффициенты Аугера/SRH).
Почему КПД падает при повышении температуры (микроскопические механизмы)
- Уменьшение разности энергетических зон (сужение запрещённой зоны): при увеличении TTT ширина запрещённой зоны EgE_gEg снижается, что повышает тёмный ток и снижает максимальное напряжение. Приблизительно I0I_0I0 растёт как
I0∝T3e−Eg/(kT), I_0 \propto T^3 e^{-E_g/(kT)},
I0 ∝T3e−Eg /(kT), а открытое напряжение подставочно задаётся
Voc≈kTqln (IphI0+1). V_{oc}\approx \frac{kT}{q}\ln\!\Big(\frac{I_{ph}}{I_0}+1\Big).
Voc ≈qkT ln(I0 Iph +1). Рост I0I_0I0 и множитель kT/qkT/qkT/q приводят к заметному падению VocV_{oc}Voc (основной вклад в потерю КПД).
- Увеличение рекомбинации:
- Shockley–Read–Hall (SRH): заполнение и термальная активизация ловушек делает SRH-рекомбинацию эффективнее при повышенной TTT.
- Аугер-рекомбинация: при высоких уровнях инжекции (концентраторы) скорость Аугера растёт сильно (RAugerR_{Auger}RAuger масштабируется как функции больших концентраций носителей, примерно ∝n2p \propto n^2p ∝n2p или ∝n3 \propto n^3∝n3 в предельных случаях).
Рост рекомбинации уменьшает время жизни τ\tauτ и диффузионную длину L=DτL=\sqrt{D\tau}L=Dτ , что снижает сбор фотогенерированных носителей.
- Увеличение тёмного/утечек и шунтовых потерь: тепловая активация путей утечки (поверхностных и переходных) увеличивает токи утечки и снижает FF.
- Снижение подвижности носителей из‑за рассеяния на фононах: с ростом TTT падает μ\muμ, уменьшаются коэффициенты диффузии D=μkT/qD=\mu kT/qD=μkT/q и ток коллекции, что ухудшает заполнительный фактор (FF) и токи при плотных токах.
- Изменения на контактах и переходах: термическая агрегация, увеличение контактного сопротивления, термическая диффузия металлов/легирующих примесей, изменение барьерных высот и усиление термоионного (утечного) тока в швах/диодах.
Какие способы терморегулирования наиболее перспективны для концентрированных СЭС
(кратко — преимущества и ограничения)
1. Жидкостное активное охлаждение микроканалами (back‑side microchannel cooling)
- Очень высокая плотность отвода тепла, малый перепад температуры по ячейке.
- Подходит при концентрациях >> 100×; хорошо в паре с многослойными III–V ячейками.
- Требует насосов, герметичности, усложняет систему, но даёт лучшую плотность теплового потока.
2. Двухфазное охлаждение (кипение/испарение в микроканалах, тепловые трубы, испарительные пластины)
- Очень высокий тепловой поток удаления с небольшой ΔT.
- Эффективно для пиковых нагрузок; сложнее в реализации (контроль сухих зон и надежность).
3. Вапор‑чембер / тепловые трубы + радиатор (пассивно/гибридно)
- Хорошо распределяют тепло по большой площади радиатора; надёжнее, проще в обслуживании.
- Подходит для умеренных концентраций или в сочетании с активным жидкостным подводом.
4. Спектральное разделение (dichroic/spectral splitting)
- Удаляет длинноволновую (инфракрасную) часть спектра от PV‑ячейки и отправляет её в термальный приёмник (CPV‑T) или в теплоотвод.
- Снижает нагрев ячейки без потери общей энергетической утилизации (плюс возможность когенерации).
- Требует более сложной оптики и согласования потоков.
5. Сброс/использование тепла (CPV‑T, теплообмен и когенерация)
- Прямое извлечение отведённого тепла для выработки горячей воды/пара повышает общую эффективность установки.
- Экономически выгодно при хорошем тепловом спросе.
6. Выбор материалов/конструкции ячейки
- Многословные III–V (GaAs‑based) MJ‑ячейки имеют меньший температурный коэффициент (dVoc/dTdV_{oc}/dTdVoc /dT меньший), лучше переносят концентрацию.
- Тонкоплёночные структуры с хорошим пассивом поверхности и низкой плотностью ловушек уменьшают SRH‑рост с TTT.
7. Терморазделяющие и фазопереносные решения (PCM, буферные системы)
- Снижают пиковые температуры при переменном инсоляции; полезны для кратковременных пиков.
8. Поверхностные радиаторы и селективное излучение
- Селективные излучающие покрытия (в инфракрасной полосе) для улучшения радиативного охлаждения; ограниченно полезно при высоком инсоляции, более эффективно ночью/при низкой концентрации.
Рекомендация для CPV (практически):
- Для высоких концентраций (>100×) наиболее перспективно сочетание: высокоэффективные многослойные III–V ячейки + жёсткое активное охлаждение (микроканалы или двухфазное) + оптическое спектральное разделение и использование тепла (CPV‑T). Это минимизирует падение VocV_{oc}Voc и рекомбинационные потери и позволяет рекуперировать тепло.
- Для средних концентраций (10–100×) эффективны комбинированные решения: вапор‑чембер + радиатор и частичное спектральное разделение; пассивные решения с хорошим теплоотводом и материалами с низким температурным коэффициентом.
Коротко о числовой зависимости (чтобы понимать масштаб):
- Основная потеря КПД идёт через падение VocV_{oc}Voc по закону диода: при росте TTT тёмный ток I0I_0I0 экспоненциально растёт и VocV_{oc}Voc уменьшается (типично температурный коэффициент мощности для кремниевых СЭ — порядка −0.4%/ ∘C-0.4\%/\!^\circ\mathrm{C}−0.4%/∘C, для лучших III–V ячеек заметно меньше).
Если нужно — могу привести расчёт ожидаемого падения VocV_{oc}Voc и мощности для конкретной ячейки (дам исходные параметры: Iph,I0,EgI_{ph}, I_0, E_gIph ,I0 ,Eg , коэффициенты Аугера/SRH).